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德国 卡尔德意志 KD LEPTOSKOP2042涂层测厚仪,镀层,漆膜测厚仪

德国KD涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法和涡流法测量镀层厚度,有多种规格探头可供选择

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编码:

FA01-000590

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  • 店铺:?3EM无损检测
  • 商品编号:?29040
  • 存货编码:?FA01-000590
  • 品牌:?卡尔德意志(KD)(德国)
  • 产品类型:?涂层
  • 产品性能:?NF型
  • 产品类别:?数字式
  • 测量范围:?0-3000μm
  • 显示精度:?0.1μm


LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法,是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。

可定制带系统的涂层测厚

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法DIN EN ISO 2178测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法DIN EN ISO 2360测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。

仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求,是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

特点概述:

大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯



校准选项

出厂时已校准,立即可用

在未知涂层上校准

零校准

在无涂层的基体上一点和多点校准

在有涂层的基体上校准

校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中,也可以随时调出

可选择的显示模式,以最佳形式去完成测量任务

输入和极限监视*

Windows下有简单的存储读数档案管理

可用的电脑软件STATWIN 2002 EasyExport

统计:

可统计评估999个读数

最小值、最大值、测量个数、标准偏差和极限监视

局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN ISO 2808)

在线统计,所有统计值概括




LEPTOSKOP 2042 3种配置级别:
基本型 – 证明质量的基本特征??????????????????????????????

高级型 - 附加统计评估

专业型 - 统计评估和数据存储

如果针对新的测量要求,而需要仪器增加新的功能,可以在任何时候把仪器升级为高级型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码,“统计”和/或“统计& 数据存储”,便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。


多样的探头:

多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下,更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求,我们也可以订做特殊探头。

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